A New Data Fitting Method for Parasitic Impedances of Power Transistor Packages using Two-Port S-Parameter Measurements

Thomas Moldaschl, Stefan Woetzel, Maurizio Galvano, Christoph Mayer, Herbert Hackl, Alfred Binder

Publikation: Konferenzband/Beitrag in Buch/Bericht › Konferenzartikel › Begutachtung

Fingerprint

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Ingenieurwesen & Materialwissenschaft