Originalsprache | undefiniert/unbekannt |
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Fachzeitschrift | Microelectronics Reliability |
DOIs | |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2017 |
TIM, EMMI and 3D TCAD analysis of discrete-technology SCRs
C. Fleury, G. Notermans, H.-M. Ritter, D. Pogany
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