Photoinduced trap generation at the Si-SiO2 interface

M. Cernusca, R. Heer, G.A. Reider

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Photoinduced trap generation at the Si-SiO2 interface“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Physik & Astronomy