Originalsprache | Englisch |
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Titel | Next-Generation Spectroscopic Technologies X |
Redakteure/-innen | Mark A. Druy, Richard A. Crocombe, Steven M. Barnett, Luisa T. Profeta |
Seiten | 168 - 173 |
Band | 10210 |
DOIs | |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2017 |
Micro-Raman spectroscopy as a tool for the characterization of silicon carbide in power semiconductor material processing
M. De Biasio, M. Kraft, M. Schultz, B. Goller, D. Sternig, R. Esteve, M. Roesner
Publikation: Konferenzband/Beitrag in Buch/Bericht › Konferenzartikel › Begutachtung