Originalsprache | undefiniert/unbekannt |
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Seiten | 159-160 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1 Mai 2013 |
Localization Of Vertical Breakdown Spots In Normally-Off And Normally-On Algan/gan HEMTs On SiC And Si Substrates
C. Fleury, S. Bychikhin, M. Cappriotti, O. Hilt, R. Zhytnytska, J. Würfl, J. Derluyn, D. Visalli, G. Strasser, D. Pogany
Publikation: Konferenzbeitrag › Papier