Growth, Properties, and Applications of Al1-xScxN Thin Films

Paul Muralt, Vladimir Pashchenko, Fazel Parsapour, Stefan Mertin, Bernd Heinz, Pascal Nicolay

    Publikation: Konferenzband/Beitrag in Buch/BerichtKonferenzartikelBegutachtung

    Abstract

    The discovery of enhanced piezoelectricity in solid
    solutions of AlN and ScN is certainly one of the most important
    events in piezoelectric MEMS. As compared to pure AlN, it
    brought a crucial factor 2 to 3 improvement in a number of figures
    of merit governing the performance of MEMS devices. The aim of
    this contribution is to give a short overview on actual topics in
    processing, properties, and applications in RF filters and sensors.
    OriginalspracheEnglisch
    TitelGrowth, Properties, and Applications of Al1-xScxN Thin Films
    Seiten255-257
    Seitenumfang3
    DOIs
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019
    Veranstaltung2019 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) - Glasgow, Großbritannien/Vereinigtes Königreich
    Dauer: 6 Okt. 20199 Okt. 2019

    Konferenz

    Konferenz2019 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)
    Land/GebietGroßbritannien/Vereinigtes Königreich
    OrtGlasgow
    Zeitraum6/10/199/10/19

    Fingerprint

    Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Growth, Properties, and Applications of Al1-xScxN Thin Films“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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