Originalsprache | undefiniert/unbekannt |
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Fachzeitschrift | Solid-State Electronics |
DOIs | |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2016 |
Effect of barrier recess on transport and electrostatic interface properties of GaN-based normally-off and normally-on metal oxide semiconductor heterostructure field effect transistors
M. Capriotti, E. Bahat Treidel, C. Fleury, O. Bethge, C. Ostermaier, M. Rigato, S.L.C. Lancaster, F. Brunner, H. Detz, O. Hilt, J. Würfl, D. Pogany, G. Strasser
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