Dark field imaging system for size characterization of magnetic micromarkers

A. Malec, C. Haiden, G. Kokkinis, F. Keplinger, I. Giouroudi

Publikation: Konferenzband/Beitrag in Buch/Bericht › Konferenzartikel › Begutachtung

Originalsprache	undefiniert/unbekannt
Titel	Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
DOIs	https://doi.org/10.1117/12.2267943
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2017
Extern publiziert	Ja

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TY - GEN

T1 - Dark field imaging system for size characterization of magnetic micromarkers

AU - Malec, A.

AU - Haiden, C.

AU - Kokkinis, G.

AU - Keplinger, F.

AU - Giouroudi, I.

PY - 2017

Y1 - 2017

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85025709494&partnerID=MN8TOARS

U2 - 10.1117/12.2267943

DO - 10.1117/12.2267943

M3 - Konferenzartikel

BT - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ER -