Temperature extraction in Normally-Off AlGaN/GaN HEMTs using Transient Interferometric Mapping

C. Fleury, M. Capriotti, O. Hilt, J. Würfl, G. Strasser, D. Pogany

    Publikation: Konferenzbeitrag › Papier

    Originalspracheundefiniert/unbekannt
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Juni 2014

    Dieses zitieren