Low frequency noise and breakdown analysis of top-down fabricated ZnO nanowire transistors

D. Pogany, C. Fleury, S. Sultan, P. Ashburn, H. Chong, L.K.J. Vandamme

    Publikation: Konferenzbeitrag › Papier

    Originalspracheundefiniert/unbekannt
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013

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