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In-doped As2Se3 thin films studied by Raman and X-ray photoelectron spectroscopies
Yuriy M. Azhniuk, Volodymyr M. Dzhagan, Dmytro Solonenko, Vasyl Loya, Iaroslav Grytsyshche, Vasyl Lopushansky, Alexander V. Gomonnai, Dietrich R. T. Zahn
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung