High-Resolution Millimeter-Wave Tomography System for Nondestructive Testing of Low-Permittivity Materials

Andreas Och, Patrick A. Hölzl, Stefan Schuster, Stefan Scheiblhofer, Dominik Zankl, Venkata Pathuri-Bhuvana, Robert Weigel

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

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