Electronic Transport and Ferroelectric Switching in Ion-Bombarded, Defect-Engineered BiFeO3 Thin Films

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

    OriginalspracheEnglisch
    FachzeitschriftAdvanced Materials Interfaces
    DOIs
    PublikationsstatusVeröffentlicht - Feb. 2018

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