Current conduction mechanism and electrical break-down in InN grown on GaN

J. Kuzmik; C. Fleury; A. Adikimenakis; D. Gregušová; M. Ťapajna; E. Dobročka; S. Haščík; M. Kučera; R. Kúdela; M. Androulidaki; D. Pogany; A. Georgakilas

doi:10.1063/1.4985128

Current conduction mechanism and electrical break-down in InN grown on GaN

J. Kuzmik, C. Fleury, A. Adikimenakis, D. Gregušová, M. Ťapajna, E. Dobročka, S. Haščík, M. Kučera, R. Kúdela, M. Androulidaki, D. Pogany, A. Georgakilas

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Originalsprache	undefiniert/unbekannt
Fachzeitschrift	Applied Physics Letters
DOIs	https://doi.org/10.1063/1.4985128
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2017

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10.1063/1.4985128

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TY - JOUR

T1 - Current conduction mechanism and electrical break-down in InN grown on GaN

AU - Kuzmik, J.

AU - Fleury, C.

AU - Adikimenakis, A.

AU - Gregušová, D.

AU - Ťapajna, M.

AU - Dobročka, E.

AU - Haščík, S.

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PY - 2017

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DO - 10.1063/1.4985128

M3 - Artikel

SN - 0003-6951

JO - Applied Physics Letters

JF - Applied Physics Letters

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