Ballistic electron emission microscopy using InAs tips

J. Smoliner, R. Heer, C. Eder

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Ballistic electron emission microscopy using InAs tips“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Ingenieurwesen & Materialwissenschaft