Testing Feasibility of Back-Side Laser Fault Injection on a Microcontroller.

Jakub Breier, Dirmanto Jap

    Publikation: Konferenzband/Beitrag in Buch/BerichtKonferenzartikelBegutachtung

    OriginalspracheEnglisch
    TitelWESS
    Seiten5
    Seitenumfang1
    DOIs
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015

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