Sensitivity optimization of an evanescent field particle detector based on a silicon nitride waveguide

Anton Buchberger, Paul Maierhofer, Jochen Kraft, Marcus Baumgart, Alexander Bergmann

Publikation: KonferenzbeitragPapierBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
Seiten89
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 21 Aug. 2020
VeranstaltungNanoengineering: Fabrication, Properties, Optics, Thin Films, and Devices XVII - Online Only, United States
Dauer: 24 Aug. 202028 Aug. 2020

Konferenz

KonferenzNanoengineering: Fabrication, Properties, Optics, Thin Films, and Devices XVII
Zeitraum24/08/2028/08/20

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