On determining optimal parameters for testing devices against laser fault attacks.

Jakub Breier, Chien-Ning Chen

    Publikation: Konferenzband/Beitrag in Buch/BerichtKonferenzartikelBegutachtung

    OriginalspracheEnglisch
    TitelISIC
    Seiten1-4
    Seitenumfang4
    DOIs
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2016

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