Modelling of Evanescent Field Scattering

Publikation: Konferenzband/Beitrag in Buch/BerichtKonferenzartikelBegutachtung

Abstract

Evanescent field particle scattering is a promising method for single particle detection. In this study, we performed a detailed numerical analysis to show the possibilities and limitations of analytical models for predicting the capabilities of this sensing mechanism.
OriginalspracheEnglisch
Titel4th International Conference nanoFIS 2020 - Functional Integrated nanoSystems
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2020

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Modelling of Evanescent Field Scattering“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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