Mismatch Analysis of DTCs With an Improved BIST-TDC in 28-nm CMOS

Peng Chen, Jun Yin, Feifei Zhang, Pui-In Mak, Rui P. Martins, Robert Bogdan Staszewski

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

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Ingenieurwesen & Materialwissenschaft